10kV/6000A Güç Aygıtı Analizörü MOSFET BJT IGBT ve SiC GaN Yarım iletkenleri için PMST Statik Test Sistemi
10kV/6000A güç cihazı analizatörü, MOSFET, BJT, IGBT ve SiC GaN yarı iletkenlerinin hassas testleri için tasarlanmış PMST'yi tanıtıyoruz.Yüksek voltaj ve yüksek akım özelliklerine sahip, μΩ düzeyinde hassas ölçüm ve nA düzeyinde akım ölçüm yetenekleri, esnek test için bağlantı kapasitans ölçümlerini ve modüler yapılandırmayı destekler,Web sitemizi ziyaret etmeye hoş geldiniz.!
Yarım iletken test sistemleri
-
10kV/6000A Güç Aygıtı Analizcisi Mosfet BJT IGBT SiC GaN Yarım iletkenleri için PMST
Şimdi başvurun -
1200V/100A Yarım iletken parametresi analizatörü SPA6100 Yarım iletken test sistemleri
Şimdi başvurun -
10Hz-1MHz Yarım iletken cihaz C-V Test Sistemi
Şimdi başvurun -
1000A Akım Algılayıcı Test Sistemi CTMS Yarım iletken test ekipmanları
Şimdi başvurun -
LDBI Laser Aging Semiconductor Test Systems Çok Kanallı Test Sistemi
Şimdi başvurun
İlişkili Videolar
LDBI Çok Kanallı Yüksek Güçlü Lazer Yaşlanma Sistemi
Yarım iletken test sistemleri
February 26, 2025
300A/30V Yüksek Akım İpuls Güç kaynağı HCPL030 SiC/IGBT/GaN HEMT testi için
Yüksek Akım Güç kaynağı
February 25, 2025
30V / 1A / 10A Yarım iletken testi Dört çeyreği çalışması Nabız kaynağı ölçümü P100
Kaynak Ölçü Birimi
February 24, 2025
IGBT için 100V/100A Yüksek Akım Darbe Kaynağı Ölçüm Birimi HCP300
Kaynak Ölçü Birimi
February 24, 2025
Çeşitli Elektriksel Karakteristik Testleri için 300V/30A Çift Kanallı Kaynak Ölçücüsü DP300B
Çift Kanal Kaynak Meter
February 24, 2025
S300 Elektrik Özellikleri Denemesi için DC Kaynağı Ölçüm Birimi 300V/1A
Kaynak Ölçü Birimi
February 24, 2025
16 bitlik ADC çözünürlüğü ve 1 MS/s örnekleme hızı ile A400 Veri Alım Kartı
Veri Alım Kartı
February 26, 2025