1000A/18V Yüksek Akım İpuls Güç kaynağı HCPL100 SiC/IGBT/GaN HEMT testi için
Şimdiki, 15μs dik darbe kenarları ve iki kanallı darbe voltaj ölçümü, Schottky diyotları, IGBT cihazları ve daha fazlasını test etmek için idealdir. Web sitemizi ziyaret etmeye hoş geldiniz!
Kaynak Ölçü Birimi
-
1000A 18V Yüksek Akım Nabız Akım Kaynağı HCPL100 Programlanabilir Güç kaynağı
Şimdi başvurun -
300A 30V İpuls Güç kaynağı Yüksek Akım Kaynağı HCPL030 SiC IGBT GaN HEMT Testi için
Şimdi başvurun -
10V 500mA PXI Kaynak Ölçüm Birimi Alt Kart Darbe PXI SMU Birim CBI401
Şimdi başvurun -
Darbeler Kaynağı Meter P300 300V 1A 10A Kaynak Ölçme Birimi Yarım iletken testi
Şimdi başvurun -
30V 4A 30A Darbeler Kaynağı Ölçme Birimi P100B Yarım iletken cihazlar için Kaynak ölçüm cihazı
Şimdi başvurun
İlişkili Videolar
S300 Elektrik Özellikleri Denemesi için DC Kaynağı Ölçüm Birimi 300V/1A
Kaynak Ölçü Birimi
February 24, 2025
10kV/6000A Güç Aygıtı Analizörü MOSFET BJT IGBT ve SiC GaN Yarım iletkenleri için PMST Statik Test Sistemi
Yarım iletken test sistemleri
February 26, 2025
LDBI Çok Kanallı Yüksek Güçlü Lazer Yaşlanma Sistemi
Yarım iletken test sistemleri
February 26, 2025
IGBT arıza voltajı testi için 1200V/100mA yüksek voltajlı güç kaynağı
Yüksek Voltaj Güç Kaynağı
February 25, 2025
Çeşitli Elektriksel Karakteristik Testleri için 300V/30A Çift Kanallı Kaynak Ölçücüsü DP300B
Çift Kanal Kaynak Meter
February 24, 2025
300A/30V Yüksek Akım İpuls Güç kaynağı HCPL030 SiC/IGBT/GaN HEMT testi için
Yüksek Akım Güç kaynağı
February 25, 2025
